恒溫恒濕箱包含哪些技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
原標(biāo)題：恒溫恒濕箱包含哪些技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
恒溫恒濕箱模擬了環(huán)境試驗(yàn)中溫度、濕度變化的情景，或者模擬極端溫度、濕度環(huán)境下的情況，來(lái)對(duì)試驗(yàn)物品進(jìn)行耐溫度、濕度的氣候試驗(yàn)，以了解產(chǎn)品在各種復(fù)雜的氣候下的使用壽命
恒溫恒濕箱可以模擬進(jìn)行高溫、低溫、潮濕、干燥的環(huán)境試驗(yàn)，在箱體結(jié)構(gòu)上，包含了一些制冷、制熱、空氣循環(huán)等設(shè)備，其空氣室內(nèi)空間加熱、制冷、加濕、除濕，試驗(yàn)箱內(nèi)置空氣間、循環(huán)風(fēng)道、加熱裝置、制冷裝置、加濕裝置及循環(huán)風(fēng)機(jī)，頂部安裝導(dǎo)風(fēng)板以及散流器。這些設(shè)備保證了恒溫恒濕箱在運(yùn)行時(shí)能夠滿足一些技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，在具體生產(chǎn)安裝的過(guò)程中，需要不斷進(jìn)行測(cè)試和調(diào)整，來(lái)達(dá)到這些技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
恒溫恒濕箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)滿足條件：
1.GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法A：低溫；
2.GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫；
3.GJB150.3A－2009高溫試驗(yàn)方法；
4.GJB150.4A－2009低溫試驗(yàn)方法；
5.GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化；
6.GBT2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)；
7.GB/T-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
8.GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法；
9.GJB150.9A-2009濕熱試驗(yàn)方法；
10.G/BT2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法；
11.GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備；
12.GB/T-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
13.GBT2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)；
14.GBT2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量。
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